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多功能样品架

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发明专利号:200810010370.8


多功能样品架
  随着材料研究的深入,越来越多的板材、块状材料及基体上的膜也要求用X射线衍射仪进行性能分析。在测角仪上安装多功能样品架可以进行织构、宏观应力、薄膜面内结构等测试,每一种测试功能都有相应的计算软件。
  碾轧板(铝、铁、铜板等)织构测量及评价
  金属、陶瓷等材料残余应力测量
  薄膜样品晶体优先方位的评价
  大分子化合物取向测量


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  多功能样品架用于织构样品测量,软件计算后分别绘制出极图、反极图、ODF图。
  多功能样品架用于宏观应力样品测量,在-30-90°内设置几点Psi角度,使样品倾斜相应角度。在不同的Psi角度下,分别测量指定晶面的角度偏移量,计算出测量样品的宏观应力。


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